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直讀介電常數介質損耗測試儀

簡要描述:直讀介電常數介質損耗測試儀在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。

  • 更新時間:2025-02-09
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詳細介紹

LJD介電常數及介質損耗測試系統使用方法 

直讀介電常數介質損耗測試儀

一 介電常數測試方法與步驟

1. S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。

 

2. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH15MHz時電感取1.5uH

3. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm),樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平整。

4. 調節S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設置為0。

  • 再松開兩片極片,把被測樣品夾入平板電容上下極片之間,調節S916測試夾具的測微桿,直到平板電容極片夾住樣品止(注意調節時要用S916測試夾具的測微桿,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值,既是樣品的厚度D2。改變主機上的主調電容容量(旋轉主調電容旋鈕改變主調電容電容量),使主機處于諧振點(Q值大值)上。
  • 取出S916測試夾具中的樣品,這時主機又失去諧振(Q值變小),此時調節S916測試夾具的測微桿,使主機再回到諧振點(Q值大值)上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D4.
  • 計算被測樣品的介電常數:

     Σ=D2 / D4

直讀介電常數介質損耗測試儀

二 介質損耗測試方法與步驟

1. 主機C0值的計算方式:

  • 選一個適當的諧振電感接到“Lx”的兩端;
  • 將調諧電容器調到200P左右,令這個電容是C4
  • 按下儀器面板的頻率搜索鍵,使測試回路諧振,諧振時Q的讀數為Q4(注:若頻率搜索未能找到z高Q值諧振點,可以通過頻率旋鈕來微調頻率來達到Q值大值的諧振點;
  • 將測試夾具接在“Cx”兩端,放入材料,上下極片夾緊材料后記住夾具顯示值,然后拿出材料,調回到夾具的顯示數值,調節主調電容,使測試電路重新諧振,此時可變電容器值為C3Q值讀數為Q3。(注:C3數值肯定比C4要小)

機構電容的有效電容為:Cz= C4C3

分布電容為機構電容CZ和電感分布電容CL(參考電感的技術說明)的和

介質損耗系數/介質損耗正切值為

2. S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。

3. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH15MHz時電感取1.5uH

4. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平直。

5. 調節S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設置為0。再松開兩片極片,把被測樣品夾入兩片極片之間,調節S916測試夾具的測微桿,到的平板電容極片夾住樣品止(注意調節時要用S916測試夾具的,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值,既是樣品的厚度D2,改變主機上的主調電容容量,使主機處于諧振點(Q值大值),然后按一次 主機上的小數點(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x(C0=Cz+CL電感分布電容)需要手動輸入,記住厚度D2的值,此時顯示數值為C2和Q2

6. 取出S916測試夾具中的樣品,(保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變)這時主機又失去諧振(Q值變小),再改變主機上的主調電容容量,使主機重新處于諧振點(Q值大值)上。

7. 注意:多次測試同一個材料時,要求保持每次材料厚度的讀數一致。

8. 第二次按下 主機上的小數點(tgδ)鍵,顯示屏上原C2Q2顯示變化為C1Q1,同時顯示介質損耗系數tn =x x x x x ,即完成測試。

9. 出錯提示,當出現tn =  NO 顯示時,說明測試時出現了差錯,發生了Q1  Q2C1  C2的錯誤情況。

 

附錄 一

顯示數據介紹:

 

C1

材料拿出后,諧振時測得的電容值

C2

材料在夾具中,諧振時測得的電容值

Q1

材料拿出后,諧振時測得的Q值

Q2

材料在夾具中,諧振時測得的Q值

CZ

主機+測試夾具測得的結構電容值

CL

標準電感的分布電容值

C0

結構電容值+電感的分布電容值

D2

材料的厚度

tn

介質損耗系數/介質損耗正切值

附錄

LKI-1電感組

LKI-1型電感組共包括不同電感量的電感9個,凡儀器在進行測試線圈的分布電容量,電容器的電容量,高頻介質損耗,高頻電阻和傳輸線特性阻抗等高頻電路和元件的電性能時,必須用電感組作輔助工具。

本電感組有較高Q值,能使儀器測量時得到尖銳諧振點,因而增加其測量的準確度,各電感的有關數據如下表:

電感No

電感量

準確度%

Q值≥

分布電容約略值

諧振頻率范圍 MHz

適合介電常數測試頻率

LJD-B

LJD-C

1

0.1μH

±0.05μH

180

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

180

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

10

15nH

±10%

40

0

 

≥100

100MHz

 

 

 

 

 

 

 

 

 

附錄

 

一  如何測試帶粘性超薄絕緣材料介電常

1 錫箔紙覆膠材料的兩面上下層錫箔紙能接觸。錫箔紙厚度為DX;

2 超薄材料需要疊加:疊加方式如下

                                   250μ貼合6層后測試;

200μ貼合8層后測試;

175μ貼合9層后測試;

125μ貼合12層后測試;

100μ貼合15層后測試;

75μ貼合20層后測試;

50μ貼合30層后測試。

3 計算公式 

  Σ=(D2-2*DX)/D4

4 損耗系數測試同理

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